CN201510484983.5 利用离子液体低温电解SiO2制取高纯硅薄膜的方法

发布者:张永姣发布时间:2024-07-17浏览次数:11

专利号:CN201510484983.5

专利名称:利用离子液体低温电解SiO2制取高纯硅薄膜的方法

申请日:2015-08-10

专利类型:授权发明

支付方式:面议

支付标准:面议

所属分类:其他

  

项目详情:一种利用离子液体低温电解SiO2制取高纯硅薄膜的方法,按以下步骤进行:(1)准备电解质的原料氟化咪唑离子液体、冰晶石、氢氟酸溶液和二氧化硅;(2)在电解槽内制成电解质,在惰性气体流通和搅拌条件下电解二氧化硅;(3)电解过程中补加二氧化硅;(4)每隔1~2h更换工作电极;(5)将硅膜剥落清洗烘干。本发明的方法相可以在低温下电沉积硅,得到的硅纯度高;为低成本、低污染的太阳能级硅薄膜绿色制备提供技术储备。

  

联系人:张刚刚

电话:83671445

邮箱:dbdxzscq@mail.neu.edu.cn