专利号：CN201910524581.1
专利名称：双扫描线光学相干层析的流速横向分量测量系统及方法
申请日：2019/6/18
专利类型：授权发明
支付方式：面议
支付标准：面议
所属分类：其他
项目详情：本发明提供了双扫描线光学相干层析的流速横向分量测量系统及方法，所述测量系统包括短相干光源、环形器、光纤耦合器、参考臂系统、光谱仪、样品臂系统和计算机。本发明通过两束探测光以不同角度进入扫描系统，形成具有一定间隔的平行双扫描线；使用双探测光同时连续扫描待测样品的两个横断面，得到待测样品两个扫描面上各点背向散射光强随时间变化的信号；再由这两个扫描面的光强信号通过互相关算法计算粒子流流速横向分量。本发明可以保证穿过第一扫描横断面的粒子，在穿过第二扫描横断面时，能被第二个探测光检测到，从而使在这两个扫描横断面采集的信号具有相关性。
联系人：张刚刚
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